測厚儀研制的關(guān)鍵問題

往返時(shí)間的測量有以下三種方法：

（1）測量發(fā)射波T與*次底波B1之間的時(shí)間;

（2）測量*次底波B1與第二次底波B2之間的時(shí)間;

（3）測量其后任意兩相鄰波之間的時(shí)間。

以上三種測量方式的選擇可以通過不同的電路來實(shí)現(xiàn)，但它們對儀器的性能有很大的影響。如果選擇*種測量方法，則因發(fā)射脈沖幅度特別大，且種測量方法，由于脈寬窄，能探測薄的材料，此時(shí)若用高頻探頭（10MHz），就能探測更薄的材料，因而拓寬了儀器測量下限。如果選擇第三種測量方法，效果和第二種不相上下，但數(shù)據(jù)采集較困難，且雜波較多。第二和第三種測量方法的測量電路較復(fù)雜，成本較高。我們在研制過程中，考慮到量程要求，采用了第二種測量方法。為了方便實(shí)現(xiàn)電路，我們在發(fā)射超聲波的同時(shí)設(shè)計(jì)了一個(gè)計(jì)數(shù)門，由門脈沖控制計(jì)數(shù)的起始位置。