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探討膜厚儀一般情況下在如哪些條件下測(cè)量更準(zhǔn)確

更新時(shí)間：2021-04-13 點(diǎn)擊次數(shù)：1064

膜厚儀分為手持式膜厚儀和臺(tái)式膜厚儀兩種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。

臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀，是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。

保障膜厚儀測(cè)量顯示值準(zhǔn)確性必要懂得以下小技巧

基體金屬特性

對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，無(wú)損檢測(cè)資源網(wǎng) 如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。

通常由于膜厚儀的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。

表面清潔度

測(cè)量前，應(yīng)表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

以是介紹膜厚儀檢測(cè)試樣準(zhǔn)確性的方法，別錯(cuò)過(guò)哦！